關(guān)于維氏硬度計的正確使用方法，今天就為大家分享一下，話不多說下面讓我們一起進入正題吧。
 

　　a. 尋找像平面
 

　　(1)針尖試樣應(yīng)采用“光點找像法”。
 

　　一般顯微硬度計測量顯微鏡物方視場只有0.25～0.35mm，在此視場范圍外區(qū)域，在測量顯微鏡目鏡視場內(nèi)，眼睛是看不見的。而針尖類試樣頂尖往往小于0.1mm，所以在安裝調(diào)節(jié)試樣時，很難把此頂尖調(diào)節(jié)在視場內(nèi);如果此頂尖在視場周圍而不在視場內(nèi)，則在升降工作臺進行調(diào)節(jié)時不小心就會把物鏡鏡片頂壞，即使不頂壞物鏡，找像也很困難，為解決這個問題，提出“光點找像法”方法。
 

　　開啟測量顯微鏡的照明燈泡，這時在物鏡下面工作臺上就有一個圓光斑，把針尖試樣垂直于工作臺安裝在此光斑的中心，升高工作臺，使此針尖的頂尖離開物鏡約1mm，這時眼睛觀察頂尖部位，調(diào)節(jié)工作臺上的兩個測微絲桿，使物鏡下照明光點在前后左右對稱分布在此頂尖上(這一步驟必須仔細(xì))，隨后緩慢調(diào)節(jié)升降機構(gòu)，這時在目鏡視場中即會看到一個光亮點，這就是此頂尖上的反射光點，再進一步調(diào)節(jié)升降即可找到此針尖的像。
 

　　(2)表面光潔度很高的試樣(如顯微硬度塊)應(yīng)采用邊緣找像法。
 

　　顯微硬度試驗中，試樣表面光潔度一般都是很高的，往往是鏡面，表面上沒有明顯觀察特征，而顯微硬度計中所有高倍測量顯微鏡的景深都是非常小的，只有1～2μm，所以在調(diào)焦找像平面時，對于缺乏經(jīng)驗的操作者是很困難的，甚至?xí)鰤奈镧R，所以操作者有的留用表面殘留痕跡來找像平面，但有時往往無殘留痕跡時，建議采用邊緣找像法。即按上述同樣方法使用照明光點(約為0.5～1mm)的中心對準(zhǔn)試樣表面輪廓邊緣，則在目鏡視場內(nèi)看到半亮半暗的交界處即為此輪廓邊緣，隨后進一步調(diào)節(jié)升降即可找到此表面邊緣的像。
 

　　b. 調(diào)節(jié)照明
 

　　為防止傾斜照明對壓痕對角線長度測量精確度的影響，要調(diào)節(jié)照明光源，使壓痕處在視場中心時按兩對角線區(qū)域分的四個區(qū)間亮度一致，通過觀察測微目鏡視場內(nèi)壓痕像的清晰程度，可將照明光源經(jīng)上、下、前、后、左、右方向稍稍移動，直至觀察到壓痕像最明亮，沒有陰影為止;移動工作臺微分筒將壓痕像前、后、左、右移動，測微目鏡視場內(nèi)均應(yīng)明亮，沒有陰影的壓痕像為好。
 

　　c. 視度歸正
 

　　我們知道測量顯微鏡測壓痕時，是把壓痕經(jīng)物鏡放大后，成像在目鏡前分劃板上，進行瞄準(zhǔn)測量。由于人眼視差異(如正常眼、近視眼、遠(yuǎn)視眼)，作為放大鏡作用的目鏡必須放在各種不同位置，才能對分劃板的刻線作清楚觀察(即刻線這時為最“細(xì)”)，這個步驟(調(diào)節(jié)目鏡相對于分劃板距離)稱為視度歸正，不然會影響測量正確性。
 

　　d. 壓痕位置的校正
 

　　通過試驗力載荷在測微目鏡視場看到的壓痕像，若其偏移視場中心較大，則需要進行壓痕位置校正，通過物鏡座幾個調(diào)整螺釘反復(fù)調(diào)整，直到在測微目鏡視場內(nèi)壓痕像居中為止，(調(diào)整幾個螺釘時不要移動工作臺)并相互鎖緊。
 

　　e. 調(diào)焦
 

　　為找到正確成像位置，應(yīng)注意要調(diào)節(jié)使壓痕邊緣清晰，而不是壓痕對角線或?qū)蔷€交點清晰。我們需要測量的是這個四棱角錐體坑表面棱形的對角線長度。為幫助操作者掌握這一步驟，這里提出“視差判別法”，當(dāng)用分劃板刻線或十字交點對準(zhǔn)壓痕對角線頂尖時，人眼相對于目鏡左右移動，這時如調(diào)焦不正確，即壓痕邊緣象不*落在分劃板上，則會發(fā)現(xiàn)此邊緣相對于分劃線會左右移動。這說明調(diào)焦不正確，如人眼相對目鏡的位置不一致，則一定存在測量誤差，此時應(yīng)進一步調(diào)焦，直至此邊緣相對分劃線在人眼晃動時無相對位置才為正確。